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更新于 11-01 00:15

测试与质量

13,007 个结果

tao-run-deft-od-aoi

TAO DEFT OD AOI 是 NVIDIA TAO 技能库中的一个应用技能,用于针对单一前景类别 defect 运行磁盘支撑的 RT-DETR 工业检测 DEFT 循环。其核心仅使用真实数据,AnomalyGenNext 合成是可选路径,需经过独立的准备、生成与准入环节。该技能通过组合现有技能库动作实现:冷启动或检查点模式下的基线差距初始化、基于 KPI 与测试集的 tao-train-rtdetr 推理测量、松/严两种置信度的 tao-analyze-gaps-od-map 差距分析、使用冻结 SigLIP 编码器的图像嵌入生成与唯一近邻匹配、应用自有的准入与累积二值 COCO 组装,以及从同一冻结基础检查点直接训练并按 KPI 选择检查点。所有规格均为嵌套 YAML 字典,GPU 与 Data Services 动作遵循所选平台的提交/状态/日志/取消契约。

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app-performance-testing

这是一个用于排查应用 HTTP API 接口响应缓慢原因、并给出提速方案的性能测试技能。它默认在预热后以单用户、逐请求方式测量,而非压力测试;强调证据驱动,每个结论都标注为“实测”(附证据)或“根据代码推断”。技能会先建立每个仓库的上下文文件,再发现端点、测量客户端耗时、按 DNS/连接/TLS/TTFB/下载等层拆分时间,并结合 Grafana 的指标、日志、链路与性能剖析定位瓶颈,最终输出报告,按影响与投入排序给出修复建议。

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swift-testing

Swift Testing 是一份面向 Swift 项目的测试编写技能指南,用于说明在这些仓库中如何用 Swift Testing 框架(而非 XCTest)编写单元测试。内容覆盖:测试类型用 struct + @Test、断言用 #expect 与 try #require、套件与 trait/tag、参数化测试 @Test(arguments:)、异步与并发的测试写法、隔离与并行执行、测试应用代码(@Observable 模型、SwiftData)以及从 XCTest 迁移的注意点。技能强调默认写法与常见错误习惯的对照(如类改用结构体、避免用 ! 解包、用具体错误而非 Error.self、用参数化替代复制粘贴、避免 Task.sleep 同步、谨慎使用 .serialized 和 .timeLimit)。它还给出按主题查阅 references 文件的导航,以及与 swift-ios、tdd、testing-policy 等技能的配合关系。

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root-cause-debug

Root-cause-debug 是一个用于排查可复现软件缺陷、失败测试或异常行为的调试技能,强调“先复现、再定位、后修复”的系统化流程。它要求先记录预期行为与实际行为、精确复现步骤、运行环境和错误证据;对于间歇性问题则先收集证据而非凭直觉下结论。随后检查近期变更、对比正常案例、追踪组件边界上的输入输出。技能要求提出单一候选原因并给出可推翻它的观察,设计最小安全测试逐一排除其他可能,每次只改一个变量。确认原因后补充回归用例,在用户批准范围内做最小修复,避免夹带无关重构;工具不可用时给出可测试方案而非声称已执行。输出按复现、证据、假设与测试、变更、验证、剩余风险组织。限制包括:不用于功能设计请求,不输出环境变量、凭据或客户数据,生产写入、部署和破坏性测试需相应授权。

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