用途：配置 MCU 的 ADC 与 DAC 外设，包括通道选择、采样时间、校准序列、DMA 循环缓冲，以及 DAC 的静态与动态输出。适用于读取模拟传感器（温度、电压）、通过 DAC 输出音频或控制电压、用 DMA 连续采样，以及 STM32 复位后的 ADC 校准。
主要能力：STM32 ADC 单次转换（使能 ADC1 与 GPIOA 时钟、PA0 模拟模式，设置 SMPR2 采样时间 84 周期、SQR3 选择通道 0，SWSTART 启动并等待 EOC 后读 DR）；按 F1/F4 参考手册执行 ADC_Calibration() 或 ADC_CR2_RSTCAL/CAL；DMA 循环 ADC（ADC1 到 DMA2 Stream0，外设到存储器、半字、存储器增量、循环模式写入 buffer[64]，用半传输/传输完成中断做双缓冲）；DAC 输出（使能 APB1 的 DAC 时钟与 DAC_CR_EN1，DHR12R1 写 2048 表示 3.3V 参考的中点）。
使用方式：可通过 /adc-dac-baremetal 命令描述需求，例如“Set up ADC1 channel 0 with DMA circular buffer”。
常见问题与限制：读数噪声大常因采样时间过短，可增大 SMP 位；EOC 卡住检查 ADC 时钟是否使能；电压不对需确认 Vref/VDDA 是否 3.3V 并校准；DMA 数据损坏注意缓冲区对齐，使用 uint16_t 对齐缓冲。相关资料未提供收费、价格、支持平台清单及除 STM32 外的具体实现细节。