用途：该技能围绕统计过程控制（SPC）展开，用于监控、控制和改进过程，核心是区分普通原因变异与需要采取行动的特殊原因变异，从而在产生缺陷前发现异常并评估过程能力。
主要能力：提供控制图选择指引。计量型数据可选 X-bar/R（子组 n=2~9）、X-bar/S（n≥10）、I-MR（单件测量、长周期、破坏性测试、低产量）；计数型数据可选 p、np、c、u 图。给出 X-bar 图、R 图、I 图、MR 图的控制限公式及 A₂、D₃、D₄、d₂ 常量表。失控判定采用西电规则 1-4 作标准，关键特性可用 Nelson 规则 5-8 扩展。过程能力部分给出 Cp、Cpk、Pp、Ppk 的公式与差异：Cp/Cpk 基于子组内变异，Pp/Ppk 基于整体标准差；并列出汽车行业目标（Cpk/Ppk 最小 1.33，优选 1.67）及 Cpk 与 PPM 的对应解读。还包含能力研究五步流程（计划、采集、分析、计算、解读行动）以及预控制（Pre-Control）的红黄绿区与判定规则。
使用方式：在 Claude 技能环境中，通过读取 ~/.claude/skills/Spc/CLAUDE.md 获取详细指南，可读取 templates/capability-study.md 能力研究模板、reference/control-chart-selection.md 控制图选择、reference/capability-indices.md 能力指数、reference/out-of-control-rules.md 失控规则。该技能可与 ControlPlan（~/.claude/skills/Controlplan/SKILL.md）、MSA（~/.claude/skills/Msa/SKILL.md）、AutomotiveManufacturing（~/.claude/skills/Automotivemanufacturing/SKILL.md）联动，SPC 有效性要求测量系统 ndc≥5。
适用场景：为某特性建立 SPC、计算 Cpk、选择控制图、判断过程是否受控、解读失控模式、开展能力研究、解释 Cp 与 Cpk 差异。
限制：具体安装命令、运行环境、收费方式与平台支持等资料暂未提供；公式与常量须按实际子组大小正确选用。